Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 81 | ISSUE 10 | PAGE 610
Туннелирование рентгеновских фотонов через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения
А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин
Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия

PACS: 07.60.Hv, 07.85.Fv, 41.50.+h
Abstract
Экспериментально продемонстрировано туннелирование рентгеновских фотонов с длиной волны 0.154 и 0.139 нм через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения (ПВО). Пленка NiSi2 толщиной 13 нм наносилась магнетронным распылением на полированную подложку Si. Пучок с угловой расходимостью 20» направлялся на границу раздела Si/NiSi2 изнутри через боковую поверхность образца. Пик, обусловленный туннелированием фотонов из Si в воздух через пленку NiSi2, наблюдался при углах скольжения \theta _1>0.4\theta _{\rm c}, где \theta _{\rm c} - критический угол ПВО на границе раздела Si/NiSi2. Интегральная интенсивность пиков туннелирования, измеренная при различных θ 1, согласуется с расчетными данными.


Download PS file (GZipped, 186.5K)  |  Download PDF file (319.8K)