Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 81 | ISSUE 6 | PAGE 305
Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах
Ю. Н. Адищев+, А. С. Артемов, С. В. Афанасьев, В. В. Бойко^\times, М. А. Воеводин, В. И. Волков, А. С. Гоголев+, В. Н. Забаев+, А. Н. Ефимов, Ю. В. Ефремов^\times, А. Д. Коваленко, Ю. Л. Пивоваров+, А. П. Потылицын+, С. В. Романов, Ш. З. Сайфулин, Е. А. Силаев^\times, А. М. Таратин, С. П. Тимошенков*, С. Р. Углов+

Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
+НИИ Ядерной физики Томского политехнического университета, 634050 Томск, Россия
^\timesИнститут физико-технических проблем, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
* Московский государственный институт электронной техники, 124498 Москва, Зеленоград, Россия


PACS: 78.70.-g
Abstract
Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятивистских протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены c кристаллами кремния и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ.


Download PS file (GZipped, 170.2K)  |  Download PDF file (257.2K)