Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 61-80
      Volume 80
      Volume 79
      Volume 78
      Volume 77
      Volume 76
      Volume 75
      Volume 74
      Volume 73
      Volume 72
      Volume 71
      Volume 70
      Volume 69
      Volume 68
      Volume 67
      Volume 66
      Volume 65
      Volume 64
      Volume 63
      Volume 62
      Volume 61
Search
VOLUME 80 | ISSUE 7 | PAGE 535
Фокусировка параметрического рентгеновского излучения
А. В. Щагин
Харьковский физико-технический институт, 61108 Харьков, Украина

PACS: 41.50.+h, 41.60.-m, 61.80.Cb, 61.85.+p
Abstract
Описана возможность фокусировки параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) без применения рентгеновской оптики. ПРИ испускается релятивистскими заряженными частицами, движущимися в режиме каналирования вдоль изогнутого кристалла. ПРИ, испускаемое со всей длины изогнутого кристалла, фокусируется в двух точках на оси кривизны кристалла. Приведено построение Гюйгенса для формирования сфокусированного ПРИ. Оценена ширина спектрального пика этого излучения. Некоторые свойства сфокусированного ПРИ оценены для типичных экспериментальных условий, обсуждаются возможности его применения. Предложен эксперимент для наблюдения сфокусированного ПРИ. Показано, что наблюдение сфокусированного ПРИ возможно при энергии протонов порядка десятков и более ГэВ.


Download PS file (GZipped, 133.1K)  |  Download PDF file (240.3K)