Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 61-80
      Volume 80
      Volume 79
      Volume 78
      Volume 77
      Volume 76
      Volume 75
      Volume 74
      Volume 73
      Volume 72
      Volume 71
      Volume 70
      Volume 69
      Volume 68
      Volume 67
      Volume 66
      Volume 65
      Volume 64
      Volume 63
      Volume 62
      Volume 61
Search
VOLUME 80 | ISSUE 3 | PAGE 179
Метод сканирующей оптической ближнепольной микроскопии на основе усиленного комбинационного рассеяния света
В. С. Горелик, О. Н. Гадомский1) +, А. С. Куницын+
Физический институт РАН, 117924, Москва, Россия
Ульяновский государственный университет, 432700 Ульяновск, Россия


PACS: 07.60.Pb, 78.35.+c
Abstract
Предлагается метод оптической ближнепольной микроскопии, в котором молекула-зонд взаимодействует с образцом, например с плоской поверхностью металла в поле внешнего оптического излучения. Рассматривается спонтанное комбинационное рассеяние света, которое в присутствие металлической поверхности характеризуется эффективной поляризуемостью молекулы-зонда, зависящей от частоты и расстояния до поверхности. Показано, что при определенных расстояниях от молекулы-зонда до поверхности при учете поляризующего влияния поверхности полубесконечной среды эффективная поляризуемость молекулы-зонда на стоксовой частоте резко возрастает по сравнению с квантовой поляризуемостью изолированной молекулы, что указывает на образование оптических ближнепольных резонансов. Показано, что предлагаемый метод оптической ближнепольной микроскопии обладает высокой чувствительностью и пространственной разрешающей способностью порядка 1 Å.


Download PS file (GZipped, 99.7K)  |  Download PDF file (206.7K)