Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 106 | ISSUE 8 | PAGE 476
Туннельная интерферометрия и измерение толщины ультратонких металлических пленок Pb(111)1)
Abstract
Методами низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены спектры дифференциальной туннельной проводимости для ультратонких пленок свинца, выращенных на монокристаллах кремния Si(111)7×7, с толщиной от 9 до 50 монослоев свинца. Для таких систем характерно существование локальных максимумов туннельной проводимости, причем положение максимумов дифференциальной проводимости определяется спектром размерно-квантованных состояний электронов в металлическом слое и, следовательно, локальной толщиной слоя. Показано, что особенности микроструктуры подложек, такие как ступени моноатомной высоты, дефекты структуры и инородные включения, покрытые слоем свинца, могут быть визуализированы методом модуляционной сканирующей туннельной спектроскопии.


Supplemental files
8ust-d.pdf