Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 99 | ISSUE 12 | PAGE 843
Визуализация электронных орбиталей в сканирующей туннельной микроскопии
Abstract
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одной из основных методик прямой визуализации электронной структуры поверхности и химического анализа многокомпонентных поверхностей на атомном уровне. В обзоре представлены результаты, демонстрирующие роль орбитальной структуры острия и взаимодействия атомов зонда и поверхности в формировании СТМ-изображений с пикометровым пространственным разрешением. Показана возможность создания зондов с известной структурой острия и селективной визуализации отдельных электронных орбиталей в СТМ-экспериментах с контролируемыми величиной туннельного промежутка и структурой зонда.