Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 92 | ISSUE 3 | PAGE 167
Идентификация структурных вакансий в карбидах, оксидах и сульфидах методом доплеровского уширения линии гамма-квантов
А. А. Ремпель, А. А. Валеева, Н. С. Кожевникова

Институт химии твердого тела Уральского отд. РАН, 620990 Екатеринбург, Россия

Abstract
Разработан метод идентификации подрешеток кристаллической структуры, в которых расположены атомные вакансии. Этот метод основан на определении химического окружения вакансий и реализуется в рамках метода аннигиляции позитронов путем измерения распределения импульсов остовных электронов. Для определения характеристического распределения импульсов электронов используется специальная двухдетекторная спектроскопия, позволяющая измерить доплеровское уширение линии аннигиляционных гамма-квантов с высоким соотношением (до 106) сигнал-шум. В качестве апробирования метода выполнена идентификация вакансий в облученном карбиде кремния (6H-SiС), спеченных нестехиометрических карбидах титана (TiCy) и монооксидах титана TiOy, а также химически осажденных сульфидах свинца и кадмия (PbS и CdS). Вакансии в углеродной и кремневой подрешетках были определены в карбиде кремния после облучения электронами низких и высоких энергий, соответственно. В TiCy были идентифицированы вакансии в неметаллической подрешетке. В TiOy, так же как и в PbS и CdS, вакансии были обнаружены в металлических подрешетках.


Download PS file (GZipped, 139K)  |  Download PDF file (195.6K)


Список работ, цитирующих данную статью, см. здесь.

List of articles citing this article can be found here.